标题:
屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
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作者:
dsbdxf
时间:
2009-8-30 10:40
标题:
屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修
行管是行输出电路中非常重要的元件
.
对于屡烧行管的故障
,
常常会令新手束手无策
,
许多师傅也是凭经验维修
,
对原理未作深入研究
.
本文将侧重于理论分析
,
对屡烧行管的故障检修进行探讨
1:开关稳压电源的+B电压升高(短时间击穿
)
2:行输出变压器和行偏转线圈短路(此时行管剧烈发热
)
3:行频过低(先发热后击穿
)
4:行逆程电容器失效(瞬间击穿
)
5:行激励不足(行管先发烫后击穿
)
6:散热不良与环境潮湿,灰尘多(长时间且不定时击穿,还与室温,通风有关
)
7:行偏转线圈开路(大多发生在大屏幕电视21寸以上
)
8:枕形校整电路元件损坏,S电容损坏或短路(短时间烧行管
)
9:行振荡晶体不良,行脉冲偶合电容,取样电压滤波电容(不定时击穿行管
)
10:显象管不间断跳火,或机内的其他地方打火,接地不良等(不定时损坏行管)
屡烧行管原因分析与检修屡烧
行管原因
分析与
检修
根据行管击穿的
故障类型
分根据
行管
击穿的
故障类型
分::1、过压击穿 2、过流击穿
行管损坏后,我们在拆下
行管
,可以使用万用表测量其静态电阻,如果
CE
阻值在数百欧姆,
行管
一般是在使用过程中,过流后过热慢慢烧毁,在烧毁之前
需要有一定的时间
积累
。
如果 CE阻值在数欧姆,此类情况是
行管
过压烧毁,多数都是瞬间意外突然
烧毁的,在烧毁之前没有异常征兆,或者是开机即烧
行管
,或者是使用几天也没
有问题但没有规律某次开机时突然烧
行管
。
行管
击穿维修的
检修
方法
行管
击穿
维修
的
检修
方法::
1
、 电流监测法
检测点:在 45V或 51V或 190V开关变压器二次供电输出电容处,二次供
电调整管滤波电容处,行包初级线圈后。
2
、 电压测量法
显示器的行激励供电因为显示器设计不同,有取自 12V, 45V, 80V等几
种,显示器的
行管
有使用双极型的,也有使用场效应管的。
如果不好找对应型号,可以考虑直接使用 IRF630,在代换行激励管后,最
好使用示波器测量一下波形,同时长时间监测一下
行管
的温升。
3、 波形检测对比法
行场 IC 的 HOUT 端,行激励管的 C 极,行激励变压器的 34 脚,
行管
的
B
极,
行管
的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的,如果某点VPP 值变低或变高,都会造成行管激励不足或过激励而烧毁
行管
。如果某点
的波形畸变,也会造成
行管
过流,长时间使用过热烧毁。通过波形检测,可以迅
速定位故障点,找出
故障原因
。
4、 温度测量法
主要用于更换行管后,对行管的温度进行长时间监控,一般
行管
连续使用两
70
度以下,基本都可以使用。注意测
个小时以上,
行管
的温度不上升,保持在
量时,要盖上后盖,不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异,要测量
时要注意与实际使用环境温度相当。
5、 元件替换排除法
对于判断行逆程电容容量减小的
故障
,可以采用电容并联法。
对于行管发热量大的问题,可以选用几个不同的
行管
(三代,四代,五代)
的
行管
进行替换,分别测试行电流大小和发热量,温升最小的选用。
行管击穿的原因分类
行管
击穿的
原因
分类::
1、 开关电源输出电压偏高
由于电源稳压系统出现
故障
,不能稳压,导致 B 电压上升。如果 B 电压超
过 10%以上,会产生
行管
击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路,误差放大器
和脉宽控制电路的元件。另外,若电网电压太高,超过了开关电源允许的稳压值
范围,也会造成开关电源输出电压偏高。
2、 二次供电稳压电路异常,导致二次供电过高
正常情况下,显示器开机时,由于缓启动电路的存在,B+的电压是慢慢升
高,而不是开机后直接跳为高电压。如果缓启动电容失容损坏,就会造成开机时
电压立即跳升,同时电压不稳,容易造成烧
行管
。
还有,二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏,也会造民二次供电异
常。
3
、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路
行偏转线圈奩行输出变压器发热后,因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
路,如果保护电路性能不佳,则会引起
行管
损坏。这时可与同型号正常机器相比
较,通过测量行输出级电流来判断。如果开机瞬间马上烧坏
行管
,此时用手摸散
热片的温度较高,则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路,引起
行管
过流击
穿。
4
、行频过低
因为流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比,即行频越低,
周期越长,行正程时间相应变长,结果使行偏转电流上升,当超过
行管
所承受的
电流最大值时,使用
行管
烧坏。因此,在调整行频时,应避免使用行频长期处于
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后,根据显示模式自动切换产
生,一般不会出现行频过低现象。
5
、 行逆程时间过短
在行逆程期间,会产生很高的反峰脉冲电压,这就要求行逆程电容,行输出
管,阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小,失效或开
路时,反峰脉冲电压上升,一旦超过行管的耐压值,就会出现
行管
换一只烧一只
的结果。此时,迅速用手摸
行管
的散热片,若温度与未开机前差不多,则说明是
因为逆程电容开路而引起的过压击穿。
解决方法:是将行逆程电容全部换新。
6、 行激励不足
如果行激励不足,行管不能迅速饱和,导致
行管
内阻变大,使用行扫描线性
变差;如果行激励不足,行管不能迅速地截止,使用
行管
长时间地处于有电流流
过的不正常工作状态,将造成行输出电路的功耗增加,引起行输出管发烫。一旦
超过行管功耗的极限值,则会使用
行管
再度烧坏。其时间间隔有快有慢,有的则
开机就烧行管;有的过一段时间才会烧
行管
。若时间间隔长,不防用示波器观察
激励级的波形,可帮助找到
故障原因
。
造成行激励不足的
原因
有:行激励管性能不良;行激励变压器的供电电阻阻
值增大;行激励变压器的周围元件有虚焊;行激励变压器初级烧组上的滤波电容
变质;行振荡电路的晶振不良;集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
效造成滤波不良。
环境潮湿
7、这使用行输出变压器周围元件漏电,或者因散热不良(如将彩电置于柜内,
或
维修
时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧),
行管
过热,使其耐压降低,最终
导致损坏
行管
。
行偏转线圈开路
8、此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间,使用
行管
在逆
程时间内也短暂导通,导致
行管
损坏。因此,
维修
时要特别小心,在行偏转线圈
及其回路开路的情况下,如果长时间通电
检修
,是极危险的。
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化,损坏短路等问题。
如 S 校正电容短路,枕校电路元件短路,使行电流大增,造成
行管
因过流
而击穿。此外,阻尼二极管开路,自举升压电容短路,高压电泄露(如高压打火,
高压线穿孔),行管质量差,显像管内部跳火,AFC 电路
故障
等,也会造成
行管
过流击穿。
10
、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容,取样电压滤波电容失容。
受附近大功率元件高温烘烤后,电容失容,导致
行管
击穿。
11、 行包(FBT 回扫变压器)或行中心调整线圈,枕校变压器,
行管
,
逆程二极管等引脚虚焊
虚焊是显示器元件损坏大敌,开关电源变压器,电源管,
行管
,行包,逆
程二极管,逆程电容,行中心调整线圈都工作在大电流,高电压环境,虚焊会造
成瞬间的接通与截止,尖峰电压很容易烧毁电源管和
行管
。
12、 行管型号不对或
行管
放大倍数相差太大,或使用了内置阻尼二极管
或阻尼电阻的
行管
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时,也要注意测量方法,如果测量方
法不当也会瞬间烧
行管
。
13、 高压打火,也是造成
行管
损坏的一种
原因
高压包在使用三到五年后,由于绝缘介质的老化,容易出现高压打火现象。
高压打火可能发生在高压包内部,也可能发生在高压包对接地装置,也可能是高
压嘴周围打火,或高压线穿孔,高压打火出现会造成高压不稳,瞬间的放电导致行管负载变化异常造成行管烧毁。
作者:
老由维修
时间:
2009-8-30 11:31
朋友论述的很详细,好经验好资料!感谢分享!
作者:
maohaidong
时间:
2009-8-30 11:44
好帖子
、、、、、、、、、、、、、、、、、
作者:
彭高
时间:
2009-10-18 20:38
好资料,感谢分享!
作者:
zwc123
时间:
2009-10-19 17:18
好贴,顶一下
作者:
kings128
时间:
2009-11-1 20:48
朋友论述的很详细,好经验好资料!感谢分享!
作者:
昊高兴
时间:
2010-1-8 19:38
好资料,好经验,感谢分享!
作者:
yushuliang
时间:
2010-1-11 21:39
好资料感谢分享
作者:
张晚晴
时间:
2010-4-8 21:28
好经验好资料!感谢分享
作者:
tsgq
时间:
2010-5-8 00:41
好经验好资料!感谢分享
作者:
Awwyygyqqqq
时间:
2011-10-19 11:05
好资料,谢谢分享!好经验,学习了!谢了!
作者:
邢景龙
时间:
2011-11-7 22:55
好资料很详细……
作者:
sunqiangsdwf
时间:
2011-11-13 22:11
支持楼主。。。。。。。。。。。
作者:
881966
时间:
2011-11-14 09:23
学习学习
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